對(duì)聲測(cè)管探頭的選擇包括探頭型式、探頭頻率、探頭晶片尺寸和橫波斜探頭K值選擇等。 探頭型式的選擇，一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇探頭的形型，盡量使超聲波聲束軸線(xiàn)與缺陷垂直。
直探頭只能發(fā)射和接收縱波，波束軸線(xiàn)垂直于探傷面，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的的缺陷,如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等缺陷。 斜探頭是通過(guò)波型轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)橫波探傷的。
主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫中的未焊透、夾渣、未熔合、氣孔等缺陷。 表面波探頭用于探測(cè)工件表面缺陷，雙晶探頭用于探測(cè)工件近表面缺陷,聚焦探頭多用于水浸探測(cè)管材或板材。
聲測(cè)管探頭的種類(lèi)及構(gòu)成 江蘇聲測(cè)管中由于被探工件的形狀、材質(zhì)、探傷目的、探傷條件不同,因而需使用不同形式的探頭。超聲波探頭按不同的歸納方式可以進(jìn)行不同的分類(lèi),一般有以下幾種。
1.按波型分類(lèi) 按被探工件中產(chǎn)生的波型可分為縱波探頭、橫波探頭、板波(蘭姆波)探頭和表面波探頭。
2.按耦合方式分類(lèi) 按照探頭與被探工件表面的耦合方式可分為直接接觸式探頭和液浸式探頭。
3.按入射聲束方向分類(lèi) 按入射聲束方向可分為直探頭和斜探頭。
4.按晶片數(shù)目分類(lèi) 按照探頭中壓電晶片的數(shù)目可分為單晶探頭、雙晶探頭和多晶探頭。
5.按聲束形狀分類(lèi) 按照超聲波聲束的集與否可分為聚焦探頭和非聚焦探頭。
6.按頻譜分類(lèi) 按超聲波頻譜可分為寬頻帶和窄頻帶探頭。
7.特殊探頭 除一般探頭外,還有一些在特殊條件下和用于特殊目的的探頭。如機(jī)械掃描切換探頭、電子掃描陣列探頭、高溫探頭、瓷瓶探傷專(zhuān)用扁平。
